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Spectral ellipsometry and reflection difference anisotropy studies of semiconductors: Optical property measurement and modeling.

机译：半导体的光谱椭偏和反射差异各向异性研究：光学性质测量和建模。

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摘要

To model spectral ellipsometry (SE) data, we introduced a new model of the dielectric function for diamond and zincblende-type. semiconductors. Our model is the first to include discrete and band-to-band Coulomb enhanced (BBCE) effects, i.e., continuum exciton at the fundamental bandgap, the spin orbit split gap, and the higher lying E1, E 1+Delta1 doublet. Our analysis has yielded experimental evaluation of the 2D exciton binding energies at the E1, E1+Delta1 CP's, R1. We show that the features near the E1, E1+Delta1 CP's are actually due to the bound exciton, which can be several hundred meV below the these CP's. The extracted R1 values using our model are in good agreement with effective-mass k•p theory.
机译：为了建模光谱椭圆仪（SE）数据，我们引入了金刚石和闪锌矿型介电函数的新模型。半导体。我们的模型是第一个包含离散和带间库仑增强（BBCE）效应的模型，即基本带隙处的连续激子，自旋轨道裂隙和较高的E1，E 1 + Delta1双重峰。我们的分析得出了在E1，E1 + Delta1 CP，R1处的二维激子结合能的实验评估。我们显示，E1，E1 + Delta1 CP附近的特征实际上是由于受激激子引起的，该激子可以比这些CP低数百meV。使用我们的模型提取的R1值与有效质量k•p理论非常吻合。

著录项

  • 作者

    Holden, Todd Marshall.;

  • 作者单位

    City University of New York.;

  • 授予单位 City University of New York.;
  • 学科 Physics Condensed Matter.; Physics Optics.
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 1999
  • 页码 328 p.
  • 总页数 328
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 光学;
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