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Atomic force microscopy of magnetic samples using optical detection methods.

机译：使用光学检测方法对磁性样品进行原子力显微镜检查。

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摘要

An atomic force microscope is an instrument that is capable of imaging magnetic, electric and van der Waals forces with a very high resolution. In this thesis, different methods for detecting the displacement of the force sensing lever in such an atomic force microscope are discussed. Special emphasis is given to optical detection methods that are used in conjunction with a vibrating lever. The three optical systems that are discussed are based on (1) the heterodyne interferometer, (2) the homodyne interferometer, and (3) a new design that utilizes feedback into a laser diode. Images of a hard disk drive head and of domains in a TbFeCo thin film sample that were obtained with the heterodyne system are presented. Also presented are images of domains in a different TbFeCo sample and of interdigital fingers that were collected with the novel laser diode system.
机译：原子力显微镜是一种能够以非常高的分辨率对磁，电和范德华力成像的仪器。本文讨论了在这种原子力显微镜中检测力传感杆位移的不同方法。特别强调了与振动杆结合使用的光学检测方法。讨论的三个光学系统基于（1）外差式干涉仪，（2）零差式干涉仪和（3）利用反馈到激光二极管的新设计。呈现了使用外差系统获得的硬盘驱动器磁头和TbFeCo薄膜样品中的畴的图像。还介绍了不同TbFeCo样品中的畴图像和用新型激光二极管系统收集的叉指的图像。

著录项

  • 作者

    Iams, Douglas Allan.;

  • 作者单位

    The University of Arizona.;

  • 授予单位 The University of Arizona.;
  • 学科 Physics Optics.
  • 学位 M.S.
  • 年度 1989
  • 页码 69 p.
  • 总页数 69
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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