University of Virginia.;
机译:可测试性设计,可完全覆盖标准全扫描电路中的延迟故障
机译:使用故障覆盖电路的低过渡低功耗测试模式发生器的Vlsi设计
机译:由于集成电路不同区域的故障覆盖范围不均匀而导致质量下降
机译:完全可测试的延迟故障和多重故障集成电路设计
机译:为模拟/混合信号集成电路开发有效的故障可诊断设计方法。
机译:故障的鲁棒性促进了可扩展性:不断发展的数字电路的见解
机译:维修服务中的模拟签名分析,以定位由过电压引起的集成电路故障
机译:容错系统中的潜在故障和覆盖。一种用于辅助测试生成的VLsI CmOs电路设计技术