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Quantitative Analysis of Fatigue Microstructures in Copper Using Transmission Electron Microscopy for Calculation of a Material Nonlinearity Parameter and Comparison with Ultrasonic Testing

机译：铜的疲劳微观结构定量分析的透射电子显微镜用于材料非线性参数的计算和超声测试的比较

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作者
Apple, Tabitha M.;
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作者单位

University of Virginia;

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授予单位 University of Virginia;
学科
学位 Ph.D.
年度 2011
页码 187 p.
总页数 187
原文格式 PDF
正文语种 eng
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