首页> 外文学位 >Applications of frustrated total internal reflection for short interaction length devices in photonic integrated circuits.
【24h】

Applications of frustrated total internal reflection for short interaction length devices in photonic integrated circuits.

机译:沮丧的全内反射在光子集成电路中短相互作用长度器件中的应用。

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

The use of frustrated total internal reflection in making short interaction length components to be utilized in photonic integrated circuits will be presented. In addition to traditional frustrated total internal reflection, the plane wave solutions for frustrated total internal reflection across an active medium are developed and presented. Devices based both upon the passive frustrated total internal reflection and enhance frustrated total internal reflection are presented. Analytical parameterization of the devices is presented along with numerical simulation results.
机译:将介绍在使光子集成电路中使用的相互作用长度短的组件中使用受挫的全内反射。除了传统的受挫全内反射之外,还开发并提出了一种跨有源介质进行受挫全内反射的平面波解决方案。提出了基于被动受挫全内反射和增强受挫全内反射的器件。给出了设备的分析参数化以及数值模拟结果。

著录项

  • 作者

    Huntoon, Nathan R.;

  • 作者单位

    Southern Methodist University.;

  • 授予单位 Southern Methodist University.;
  • 学科 Engineering Electronics and Electrical.;Physics Optics.
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 2009
  • 页码 116 p.
  • 总页数 116
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 无线电电子学、电信技术;光学;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号