State University of New York at Stony Brook.;
机译:同步加速器X射线形貌和透射电子显微镜表征4°off 4H-SiC外延晶片中的三角形缺陷
机译:同步辐射X射线形貌与结构缺陷对4H-SiC外延层寿命映射的相关性
机译:同步X射线形貌分析4度偏离4H-SiC外延晶片中梯形缺陷的成因
机译:通过同步加速器X射线形貌和透射电子显微镜表征4°off 4H-SiC外延晶片中的三角形缺陷
机译:单晶半导体材料中的白光同步辐射X射线形貌缺陷表征和应力分析。
机译:使用基于同步加速器的透射软X射线显微镜对光子晶体中的局部结构和缺陷进行纳米级表征
机译:同步辐射X射线形貌和GaN穿线位错的缺陷选择性刻蚀分析
机译:LGX和sXGs大块单晶,薄膜和压电器件的同步加速器白光束X射线形貌表征