利用掃描穿隧顯微鏡探討在硒化銦上未氧化表面和氧化表面之介面接合處的電子特性 =Scanning Tunneling Microscope study of InSe Surface Electronic Properties at the Fresh/Oxided Interface Junction

著录项

• 作者

  Luo, Zih-Jia.;

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• 作者单位

  National Taiwan Normal University (Taiwan).;

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• 授予单位 National Taiwan Normal University (Taiwan).;
• 学科
• 学位 Masters
• 年度 2018
• 页码 57 p.
• 总页数 57
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类 AAI28122214;
• 关键词