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Non-destructive depth profiling using variable kinetic energy- x-ray photoelectron spectroscopy with maximum entropy regularization

机译：使用具有最大熵正则化的可变动能 - X射线光电子能谱的非破坏性深度分析

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作者
Krajewski, James J.;
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作者单位

University of Delaware.;

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授予单位 University of Delaware.;
学科
学位 D.Eng.
年度 2016
页码 136 p.
总页数 136
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类 AAI10157861;
关键词
Depth; Photoelectron; Profiling; Regularization; Spectroscopy;

机译：深度;光电子;分析;正规化;光谱学;

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