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【24h】

Vco Adc in Electrical Impedance Tomography Measurements and Physical Unclonable Function for Hardware Security Application

机译:VCO ADC在电气阻抗断层扫描测量和硬件安全应用程序的物理不可渗透功能

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著录项

  • 作者

    Danesh, Mohammadhadi.;

  • 作者单位

    State University of New York at Buffalo.;

  • 授予单位 State University of New York at Buffalo.;
  • 学科
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 2020
  • 页码 145 p.
  • 总页数 145
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 AAI27994525;
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