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许晓东; 唐圣金; 谢建; 于传强; 王凤飞; 韩洋洋;
火箭军工程大学兵器发射理论与技术国家重点学科实验室;
剩余寿命预测; 随机退化应力; 维纳过程; 贝叶斯框架; 期望最大化算法; 粒子群优化算法;
机译:考虑随机故障阈值,预测设备剩余使用寿命的方法
机译:基于MPI的CPSD的振动条件下电子设备的寿命预测和剩余寿命预测。
机译:基于证据相似度的回归方法,用于在存在不完全降解轨迹的情况下预测设备的剩余使用寿命
机译:估计开关设备绝缘子的剩余使用寿命:Mahalanobis-Taguchi(MT)方法在绝缘退化的诊断和估计剩余寿命中的应用
机译:随机洋流作用下复合材料涡轮叶片的综合设计方法和疲劳寿命预测的发展
机译:静电放电应力作用下的全栅硅纳米线场效应晶体管的退化机理–一种建模方法
机译:随机载荷条件下数据疲劳寿命预测方法
机译:操作能量存储设备的方法,例如车辆中的电池,当预测的存储设备剩余寿命小于预定的剩余寿命时,涉及暂时减小施加到存储设备上的应力
机译:窄带随机应力波动下的设备寿命预测方法
机译:窄带随机应力波动下的设备使用寿命预测方法
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