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基于单次快拍的自适应天线阵互耦效应分析与校正

         

摘要

本文基于天线阵列的单次快拍数据,分析和校正了自适应天线的单元互耦效应.文中首先阐述了基于单次快拍数据的信号处理方法,介绍了构造权矢量法方程的方法,给出了系统恢复期望信号的表达式和形成自适应方向图的公式.采用矩量法互耦分析模型和"前向"方法,分析互耦对系统性能的影响.提出校正互耦的方法,给出了具体的计算方法和简洁的表达式.最后分别模拟了在强、弱干扰的环境下,互耦对系统分辨率和输出方向图的影响,并验证了本文方法校正互耦的效果.

著录项

  • 来源
    《电子学报》 |2002年第6期|922-924|共3页
  • 作者

    高雪; 胡鸿飞; 傅德民;

  • 作者单位

    西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室,陕西西安,710071;

    西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室,陕西西安,710071;

    西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室,陕西西安,710071;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 天线;
  • 关键词

    矩量法; 单次快拍数据; 互耦; 分析; 校正;

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