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双极化微带天线单元及二元阵的FDTD法分析

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摘要

本文用FDTD全波分析法研究了双极化方形贴片单元的物理参数,即馈线宽度、相对介电常数和基片厚度对天线谐振频率、反射系数和隔离度的影响.比较了这些参数对二元阵和单元性能影响的不同,同时研究了阵列互耦随天线参数的变化情况.

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来源
《电子学报》 |2002年第9期|1333-1335|共3页
作者
杨雪霞; 钟顺时;
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作者单位

上海大学通信与信息工程学院,上海,200072;

上海大学通信与信息工程学院,上海,200072;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN822.4;
关键词
双极化; 微带天线阵; 互耦; 时域有限差分法;

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