用ps光电导采样技术测量微波单片集成电路的S参数

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• 来源
  《电子学报》 |1999年第2期|26-28|共3页
• 作者

  吕福云; 袁树忠; 潘家齐; 盖琦; 赵源超; 何庆国;

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• 作者单位

  南开大学物理系,天津,300071;

  国家教委光学信息技术开放实验室,天津,300071;

  南开大学物理系,天津,300071;

  国家教委光学信息技术开放实验室,天津,300071;

  南开大学物理系,天津,300071;

  国家教委光学信息技术开放实验室,天津,300071;

  南开大学物理系,天津,300071;

  国家教委光学信息技术开放实验室,天津,300071;

  南开大学物理系,天津,300071;

  国家教委光学信息技术开放实验室,天津,300071;

  南开大学物理系,天津,300071;

  国家教委光学信息技术开放实验室,天津,300071;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 电子元件、组件;
• 关键词

  S-参数; 采样测量; 光导开关;