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张义门; 吴拥军;
西安电子科技大学微电子研究所;
晶体管; Knik效应; 低频偏移效应; HEMT;
机译:高电阻率Si衬底上GaN HEMT中包括温度效应在内的高频噪声的解析模型
机译:拟晶HEMT的扭结效应和低频噪声特性的实验研究
机译:AlGaN / GaN HEMT中的低频噪声和屏蔽效应
机译:GaN HEMT,MIS-HEMT和P栅极HEMT的可靠性和失效物理学用于电源开关应用 - 由于深度效应和时间依赖性分解现象,寄生效应和降解
机译:隧道场效应晶体管的解析模型和GaN高电子迁移率晶体管的实验研究。
机译:AlGaN / GaN HEMT大信号建模中的IV扭结效应研究
机译:GaAs和InP HEMT中的低频色散效应建模
机译:Gaas场效应晶体管的表面效应和低频噪声
机译:用于确定机构的效应器位置或效应器偏移的装置包括附接到效应器的辐射图定位传感器,其中效应器的完整或部分位置由计算装置计算
机译:具有集成偏移量控制的霍尔效应元件以及用于操作霍尔效应元件以减小空偏移的方法
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