缝耦合微带双贴片天线阻抗和辐射特性

宋庆; 张雪霞

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缝耦合微带双贴片天线阻抗和辐射特性

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本文提出了将阵列单元由单贴片改成缝耦合双贴片的形式。利用并矢Ｇｒｅｅｎ函数和谱域矩量法分析了单贴片及缝耦合双贴片天线的输入阻抗。考虑了阵列天线的馈电网络中不均匀性的影响，根据解积分方程所得出的微带天线贴片表面电流分布。计算出其方向图特性，结果表明，缝耦合双贴片两单元微带阵列天线的阻抗频带提高到普通两单元微带阵列天线频带的２．５倍，文中实验数据与理论计算结果吻合甚好。

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来源
《电子学报》 |1994年第9期|62|共1页
作者
宋庆; 张雪霞;
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作者单位

不详;

不详;

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正文语种 chi
中图分类 TN827.4;
关键词
微带天线; 贴片; 天线; 缝耦合;

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