首页> 中文期刊> 《电子学报》 >半导体器件中l/f噪声的微观统计模型

半导体器件中l/f噪声的微观统计模型

         

摘要

半导体器件中1/f噪声的粒子数涨落和迁移率涨落模型具有很大的局限性。本文利用Boltzmann输运理论提出了一个描述其1/f噪声的微观统计模型,得到了与实验更为相符的关于1/f噪声谱密度的公式。

著录项

  • 来源
    《电子学报》 |1985年第2期|68-73|共6页
  • 作者

    史永基;

  • 作者单位

    洛阳建筑材料工业专科学校;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号