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高速存储器测试图案发生器

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本文提出了一种适用于微程序控制的测试图案发生器的指令存储器结构,在此基础上研制成功了几种测试图案发生器,并对该种高速存储器测试图案发生器进行了分析和讨论。

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来源
《电子学报》 |1981年第4期|83-88|共6页
作者
林雨;
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作者单位

中国科学院半导体研究所;

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