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基于一种NAND闪存页缓存器设计的C/F读取算法研究

         

摘要

为减小共源线噪声对NAND闪存读可靠性的影响,设计了一种可实现C/F(Coarse/Fine)读取操作的页缓存器电路,并设计实现了适用于此电路的C/F读取算法,显著减小了共源线噪声.该算法通过两次子读感应读取存储单元,在第一次子读感应中分辨出阈值电压较低的存储单元并标记在页缓存器中,使其不再进行第二次子读感应,从而减小共源线噪声引起的阈值偏移.电路仿真计算表明,该支持C/F读取算法的页缓存器结构能够减小阈值偏移至少495.6mV,有效提高了NAND闪存读操作的精确性.

著录项

  • 来源
    《电子学报》 |2018年第11期|2619-2625|共7页
  • 作者单位

    成都信息工程大学通信工程学院;

    四川成都610225;

    中国科学院微电子研究所;

    北京100029;

    中国科学院微电子研究所;

    北京100029;

    中国科学院大学微电子学院;

    北京100029;

    成都信息工程大学通信工程学院;

    四川成都610225;

    中国科学院微电子研究所;

    北京100029;

    中国科学院大学微电子学院;

    北京100029;

    中国科学院微电子研究所;

    北京100029;

    中国科学院大学微电子学院;

    北京100029;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TP333.5+2;
  • 关键词

    NAND闪存; 多值存储单元; 页缓存器; Coarse/Fine读取算法; 读可靠度;

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