半导体器件内离子有效LET值测量方法研究

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• 来源
  《电子学报》 |2018年第10期|2546-2550|共5页
• 作者

  史淑廷; 韩金华; 陈启明; 张付强; 殷倩; 肖舒颜; 郭刚; 刘建成; 蔡莉; 陈泉; 沈东军; 惠宁; 张艳文; 覃英参;

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• 作者单位

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

  中国原子能科学研究院核物理所;

  国防科技工业抗辐照应用技术创新中心;

  北京102413;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 放射性计量学与计量技术;重离子核物理;
• 关键词

  单粒子效应; 电荷收集; 有效LET值; SRAM;