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一种新的缩短随机测试序列长度的方法

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本文提出了一种新的缩短随机测试序列长度的方法，它是在找到电路中难测故障分布的基础上，通过对电路的初始输入施加概率不等的＂１＂信号，使这些难测故障的测试率升至最大值，这样，就可以达到提高故障覆盖率和缩短测试序列长度的目的。

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来源
《电子学报》 |1995年第8期|6-9|共4页
作者
丁瑾; 胡健栋;
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作者单位

北京邮电大学电信系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
随机测试; 故障覆盖; 概率优化; 集成电路;

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