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基于激光注入的FPGA加密防护设计验证研究

         

摘要

激光注入技术是评估安全芯片抗故障攻击能力的重要手段之一.本文详细分析了激光故障注入的原理及激光诱发现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)触发器结构故障的机制,提出了一种FPGA激光注入评测方法.分别采用随机和定点故障注入的方法,对基于FPGA实现的SM2算法的基点等数据进行了篡改,验证了防护设计的有效性.针对28 nm工艺的FPGA,激光能够实现指定字节的单比特故障注入,同时也能实现快速的高覆盖率随机故障注入,是一种精确和高效的安全芯片评测手段.

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