110 GHz可溯源的On-wafer GaAs基Multi-TRL校准标准件研制

袁思昊; 刘欣萌; 黄辉

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110 GHz可溯源的On-wafer GaAs基Multi-TRL校准标准件研制

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设计制作了用于1～ 110 GHz On-wafer散射参数测试系统自校准的GaAs基Multi-TRL校准标准件.主要验证了Multi-TRL校准标准件设计的正确性;经过与国外计量标准及商用校准件比对,还验证了在频率范围1 GHz～ 110 GHz,用于Multi-TRL校准的校准标准件的准确性.

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来源
《计量学报》 |2019年第5期|760-764|共5页
作者
袁思昊; 刘欣萌; 黄辉;
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作者单位

中国计量科学研究院;

北京100029;

中国计量科学研究院;

北京100029;

北京芯宸科技有限公司;

北京100013;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类无线电计量;
关键词
计量学; 共面波导; W波段; On-wafer; 砷化镓; Multi-TRL校准件; 散射参数;

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