粒子图像测速技术测量精度影响因素分析

刘兵; 崔骊水; 李小亭; 王毅

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粒子图像测速技术测量精度影响因素分析

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对基于粒子图像测速(PIV)技术的瞬时全流场测量方法进行了综述.系统介绍了 PIV的工作原理、技术的关键环节(获取图像的品质)和影响测量精度主要因素(示踪粒子性能、光源性能、背景噪声、成像畸变、同步器时间分辨率及图像处理算法).基于这些分析,给出了示踪粒子性能的保障、成像组件的选择以及图像处理方法确定的具体建议.

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来源
《计量学报》 |2021年第3期|346-351|共6页
作者
刘兵; 崔骊水; 李小亭; 王毅;
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作者单位

河北大学质量技术监督学院河北保定071002;

中国计量科学研究院北京100029;

中国计量科学研究院北京100029;

河北大学质量技术监督学院河北保定071002;

中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所北京100095;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类流量与流速计量;
关键词
计量学; 全流场测量法; 粒子图像测速; 图像处理算法; 光流算法;

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