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江逸洵; 乔明; 高文明; 何小东; 冯骏波; 张森; 张波;
电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室 成都 610054;
无锡华润上华科技有限公司 无锡 214028;
屏蔽栅沟槽; MOSFET; 紧凑型模型; BSIM4; Verilog-A;
机译:P +屏蔽区对4H-SiC沟槽栅MOSFET单事件烧断的影响
机译:设计4H-SiC P屏蔽沟槽栅MOSFET以优化开关电特性
机译:基于物理的紧凑型模型,由全栅MOSFET中的寄生双极结型晶体管引起的瞬态泄漏电流
机译:屏蔽栅沟槽功率MOSFET中的BV DSS inf>(漏极至源极击穿电压)不稳定
机译:精确的基于RTA的非准静态紧凑型MOSFET模型,用于RF和混合信号仿真。
机译:具有多个外延层的150–200 V分离栅沟道功率MOSFET
机译:基于表面势的紧凑型平面和双栅mOsFET量子效应模型
机译:利用数据驱动和基于模型的方法在热应力加速老化下预测功率mosfets。
机译:具有多个沟槽式浮栅作为终端的屏蔽沟槽MOSFET
机译:具有延伸到更深的基于沟槽的源极电极的基于沟槽的交叉栅电极的垂直MOSFET及其形成方法
机译:具有跨过基于沟槽的栅电极并延伸到基于深沟槽的源电极的垂直MOSFET及其形成方法
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