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电化学沉积金纳米线结构及其电学特性

         

摘要

用电化学沉积方法,在有机介孔模板上制备出直径为90nm的金纳米线.透射电子显微镜(TEM)分析结果表明,纳米线表面光滑并呈单晶结构.去除有机模板的金纳米线阵列用扫描电子显微镜(SEM)测试,纳米线顶端呈平台状,直径分布均一.我们利用原子力显微镜(AFM)测量了金纳米线阵列的微观结构,得到与SEM相一致的结果.在大气和室温条件下,用导电AFM针尖在接触模式下测量了单根纳米线的轴向I-V特性曲线,其结果为金属性.

著录项

  • 来源
    《物理化学学报》 |2002年第4期|359-363|共5页
  • 作者

  • 作者单位

    北京大学电子学系,北京,100871;

    中国科学院物理研究所凝聚态物理中心北京真空物理实验室,北京,100080;

    北京大学电子学系,北京,100871;

    北京大学电子学系,北京,100871;

    北京大学电子学系,北京,100871;

    北京大学电子学系,北京,100871;

    北京大学电子学系,北京,100871;

    北京大学电子学系,北京,100871;

    斯大学物理系,法国;

    斯大学物理系,法国;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 电化学、电解、磁化学;
  • 关键词

    金纳米线; AFM; I-V特性曲线;

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