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利用X射线荧光分析法提高铝电解质中Al2O3分析准确度

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本文针对影响铝电解质中Al2O3分析准确度的因素加以分析。通过试样粒度和元素间谱线干扰实验。有效地提高了在X射线荧光光谱法分析铝电解质中Al2O3准确度。

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来源
《铝镁通讯》 |2005年第3期|35-36|共2页
作者
解峰; 徐文勇;
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作者单位

宁夏青铜峡铝业集团公司质监部;

宁夏青铜峡市751603;

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正文语种 chi
中图分类铝;
关键词
粒度效应; 谱线干扰; Al2O3; 铝电解质; X射线荧光分析法; 准确度; X射线荧光光谱法; 干扰实验;

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