PW 1700 X射线衍射仪织构分析应用软件的功能开发

何崇智; 蔡明杰

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PW 1700 X射线衍射仪织构分析应用软件的功能开发

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由Philips引进的PW 1700 X射线衍射仪织构测量系统只能用反射法，按螺旋线扫测极图数据，测绘极角α≤85°的不完整极图。经功能开发后，建立了织构分析测算系统，织构分析应用软件包，包括不完整极图测量与ODF(取向分布函数)计算，回算全极图与反极图．可彩色屏显考贝，并能进行织构的定量分析，适用于立方和六方品系多品织构材料分析，近两年应用表明，软件功能优异。

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来源
《分析测试技术与仪器》 |1994年第1期|12-16|共5页
作者
何崇智; 蔡明杰;
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作者单位

北京钢铁研究总院,北京100081;

陕西北有色金属研究院,宝鸡721014;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TH838.1;
关键词
PW; 1700; X射线衍射仪; 织构分析; 应用软件包; 软件开发; 多晶材料; 取向分布函数;

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