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机译:用中能电子碰撞法测量Se的Al和L壳x射线产生截面的K壳电离截面
机译:通过电子碰撞测量Ge的绝对K壳电离截面和L壳X射线产生截面
机译:通过电子碰撞测量铅的L壳和M壳的绝对X射线产生截面
机译:L-壳X射线生产横截面由重离子影响引起的横截面:寻找通用曲线
机译:0.4和铀M壳X射线产生的横截面,用于0.4–4.0 MeV质子,0.4–6.0 MeV氦离子,4.5–11.3 mev碳离子和4.5–13.5 MeV氧离子
机译:漂移管离子迁移率的实验室间评估-质谱碰撞碰撞截面测量
机译:J,m(j)的横截面产生J',m(j')在与He,Ne和Kr碰撞引起的4(2p)钾状态内的转变
机译:利用离子迁移谱法快速测量离子碰撞截面的方法
机译:离子淌度法快速测量离子碰撞截面的快速方法
机译:X射线检测方法,包括通过测量检测到的电时间响应来吸收晶体的X射线剂量,并根据晶体结构的局部变化确定离子以引起可检测到的时间响应变化
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