检入管理CIMS系统中的集合覆盖问题SCP研究

方琼; 邵瑾

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在图形处理芯片GPU芯片架构设计过程中,针对C-model源代码管理,设计了一套检入管理系统CIMS(CheckInManagementSystem),并根据集合覆盖原理提出一种新的优选策略,用于筛选CIMS系统中的测试用例.实验表明,该算法获得的测试集合,在时间约束条件下,能有效覆盖已有代码,充分发挥预检功能.

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来源
《集成电路应用》 |2018年第7期|18-21|共4页
作者
方琼; 邵瑾;
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作者单位

上海兆芯集成电路有限公司,上海201203;

上海兆芯集成电路有限公司,上海201203;

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正文语种 chi
中图分类设计;算法理论;
关键词
集成电路设计; 源码版本管理; 集合覆盖; 测试用例筛选; 贪心算法;

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