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源同步接口芯片的测试

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摘要

随着当前芯片处理数据速率越来越高，为了防止数据和时钟产生失步，许多新型的使用高速串行接口的芯片都采用了一种源同步（Source Synchronous)的技术，这时传统的芯片测试方法提出了新的挑战，本文将主要介绍源同步的概念及针对源同步接口的测试技术。

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来源
《集成电路应用》 |2003年第10期|62-64|共3页
作者
张骅;
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作者单位

NPTestInternationalInc．半导体测试系统部;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类测试和检验;
关键词
高速串行接口; 源同步; 芯片测试; 前向时钟; HyperTransport;

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