乱序超标量多核处理器的验证方法

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• 来源
  《集成电路应用》 |2019年第9期|14-16|共3页
• 作者

  陈国华;

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• 作者单位

  上海兆芯集成电路有限公司;

  上海 201203;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 设计;运算器和控制器（CPU）;
• 关键词

  集成电路设计; 处理器验证; 体系结构寄存器; 多级缓存;