基于SEM的FPGA抗单粒子翻转技术研究及验证

孙逸帆; 白亮; 双小川; 田文波; 游红俊

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基于SEM的FPGA抗单粒子翻转技术研究及验证

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随着FPGA片内纠检错技术的发展,Xilinx公司在旗下的SRAM型FPGA上应用了一种名为软错误修复(SEM)的加固技术,大幅提升了配置RAM的单粒子软错误检测和修复效率。但这种片内加固技术本身需要使用一定的逻辑和存储资源,同样也有发生单粒子软错误的风险。本文分析了应用SEM加固技术的必要性和存在的问题,提出一套基于SEM的FPGA抗单粒子翻转解决方案,并给出了在XC7K410T型FPGA上的试验验证结果,验证了加固技术的有效性。

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来源
《原子能科学技术》 |2022年第4期|742-748|共7页
作者
孙逸帆; 白亮; 双小川; 田文波; 游红俊;
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作者单位

上海航天电子技术研究所;

上海航天智能计算技术重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类辐射;
关键词
单粒子翻转; SRAM型FPGA; 软错误修复; SEM技术;

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