首页> 中文期刊> 《电声技术》 >开口箱扬声器系统低频特性频域分析与时域测量

开口箱扬声器系统低频特性频域分析与时域测量

         

摘要

本文从频域上分析了开口箱扬声器系统的阻抗曲线与低频特性参数的关系,介绍了一种新的时法测量开口箱扬声器系统低频特性参数,阻抗曲线和低频响应曲线的方法,得出了有意义的结果。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号