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美国国家仪器有限公司; 硬件在环仿真; I/O性能; PXI平台; FPGA; 测试系统; LabVIEW; Instruments;
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机译:日本基于NI PXI的自动化测试系统对半导体制造的建议
机译:基于Fpga的Pxi模块可提高测试系统的I / O性能
机译:NI PXI-MC - DER标准毛皮高性能多控制器NI PXI-Systeme
机译:碳和钛掺杂Fe40.4Ni11.3Mn34.8Al7.5Cr 6和Fe36Ni18Mn33Al13合金的组织和力学性能
机译:Rh-Ni和Ru-Ni纳米级催化剂在水中有效裂解芳基醚C-O键
机译:将基于CROWD sDN的Dmm解决方案与NI pXI系统集成,用于LTE仿真
机译:弹性微分有效截面和非弹性得到了44兆电子伏的释放颗粒αON TaRGET:为24mg,25毫克,26mG,40Ca,46Ti,48Ti,50Ti,52Cr,54Fe,的56Fe,58Fe,58Ni,60Ni,62NI,64Ni, 63Cu,65Cu,64Zn,112sn,114sn,116s
机译:基于Co-NI的合金,控制基于Co-NI的合金的晶体的方法,生产基于Co-NI的合金的方法以及具有可控制的结晶度的基于Co-NI的合金
机译:FE-NI或FE-NI-CO或FE-NI-CO-CU合金条带,提高了可切割性
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