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AFM诱导正十八硫醇在金基底上的选择性生长

         

摘要

@@ 扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscopy,SPM)由于其极高的空间分辨能力和高度的可控性,已成为纳米尺度加工的有力工具[1,2].自Schneir等[3]报道原子级平整金基底的制备和用装备Au针尖的扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy,STM)在基底上制备金纳米点以来,有关在Au和HOPG等基底上制备由金点构成的任意图案的方法及用导电原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)在HOPG和Si基底上制备金点阵的工作已有许多报道[4,5].用导电AFM和Tapping mode AFM[6,7]对Si进行直接氧化可在其表面加工出各种尺寸的SiO2点阵和线条,利用AFM亦可直接对金属表面的自组装单分子膜进行刻蚀[8],以选择性除去特定位置的硫醇分子,加工出各种图案.利用AFM机械刻写有机膜得到的图案通常为负的,即图案部分为暴露的金属.最近,Piner[9]首次报道了用AFM得到正图案的方法.

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