Low-Atomic-Number Nanometric Film Production Method for keV Electron Scattering Measurements

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• 来源
  《化学与化工》 |2016年第5期|P.221-229|共9页
• 作者

  Mordechai Geller1; Itzhak Orion2;

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• 作者单位

  [1]Nuclear Research Center-Negev （NRCN）, Beer-Sheva 84190, Israel;

  [2]Department of Nuclear Engineering, Ben-Gurion University of the Negev, Beer-Sheva 84105, Israel;

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• 正文语种 CHI
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