一种应用于SRAM型FPGA寄存器的容错设计

邱根; 毕东杰; 彭礼彪

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一种应用于SRAM型FPGA寄存器的容错设计

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寄存器作为SRAM型FPGA系统设计中的一个重要组成部分,容易受到太空环境中的高能粒子影响而发生软错误.三模冗余设计方法能够对寄存器进行容错防护,但带来大量的资源和功耗开销;针对此问题该文设计一种基于奇偶校验的双模冗余防护结构,以触发器为单位,利用FPGA查找表结构特点,将两位触发器作为一组进行容错设计,通过奇偶校验选择正确结果输出,能从细粒度方面对寄存器的数据位进行错误屏蔽.该方法于Xilinx Virtex?-6 FPGA中进行设计验证,实验结果表明该方法设计实现的寄存器相对于三模冗余设计方法能减少16.7％的触发器资源和50％的查找表资源.

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来源
《中国测试》 |2018年第9期|75-79,95|共6页
作者
邱根; 毕东杰; 彭礼彪;
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作者单位

电子科技大学自动化工程学院,四川成都 611731;

电子科技大学自动化工程学院,四川成都 611731;

电子科技大学自动化工程学院,四川成都 611731;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类电子电路;
关键词
双模冗余; 故障容错; 寄存器; 软错误; 三模冗余;

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