XenoⅢ粘接系统对复合树脂修复根面龋术后敏感发生率观察

杨为民

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XenoⅢ粘接系统对复合树脂修复根面龋术后敏感发生率观察

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目的：观察应用XenoⅢ粘接系统对复合树脂修复根面龋术后敏感发生率的影响。方法：52倒患者（患牙60颗），随机分为两组，实验组25倒（30颗患牙）采用登士伯XenoⅢ粘接系统，对照组27例（30颗患牙）使用登士伯磷酸全酸蚀牙本质粘接系统（Prime＆BondNT），充填材料为登士伯配套的复合树脂。临床观察时间为术后1周、1个月及3个月。结果：实验组治疗1周后敏感发生率3．33％，1个月后无过敏症状发生；对照组治疗1周后敏感发生率16．67％，1个月后敏感发生率10％．3个月后敏感发生率3．33％。术后1周，两组差异有显著性。结论：XenoⅢ粘接系统操作步骤简单，效果更好。

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来源
《中国社区医师：综合版》 |2007年第21期|102-102|共1页
作者
杨为民;
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作者单位

北京市海淀区清河社区服务中心口腔科;

安宁庄100085;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类牙体缺损的修复矫治;
关键词
根面龋; 自酸蚀粘接系统; 全酸蚀牙本质粘接系统; 复合树脂术后敏感;

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