右删失数据下分位数回归的光滑经验似然检验

李忠桂; 何书元

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右删失数据下分位数回归的光滑经验似然检验

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摘要

关于线性分位数回归模型的参数检验问题,对完全观测数据,已有文献用经验似然(EL)法和光滑经验似然(SEL)法构造的检验统计量在原假设下均以卡方分布x2M为渐近分布.对右删失数据,已有文献用EL法构造的检验统计量以加权卡方分布为渐近分布,而权重是待估的.对右删失数据,本文用EL法和SEL法构造的检验统计量在原假设下均依分布收敛到x2M,因此无需估计权重.由于SEL法的估计函数是光滑的,故可以进行Bartlett纠偏.随机模拟结果表明与已有的方法相比,SEL法经过Bartlett纠偏后有更高的精度.

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来源
《应用概率统计》 |2019年第2期|153-164|共12页
作者
李忠桂; 何书元;
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作者单位

首都师范大学数学科学学院;

北京;

100048;

首都师范大学数学科学学院;

北京;

100048;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类一般数理统计;
关键词
分位数回归; 右删失; 光滑经验似然;

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