采用独立复位信号的同步时序电路可测试性设计

向东; 顾珊; 徐奕

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采用独立复位信号的同步时序电路可测试性设计

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摘要

针对同步时序电路提出一种结合了插入可观测点的部分复位方法,该方法是基于迭代计算的电路状态信息和冲突分析测度而提出的.根据基于电路状态信息的测度和冲突分析所选择出来的部分复位触发器,可以割断电路中的关键回路,使得电路容易被初始化,同时减少在时序ATPG中的潜在冲突.以前的部分复位方法中,部分复位的触发器不能由独立的复位信号所控制,这也是不能彻底改善可测试性的一个重要原因.当部分复位触发器可以由独立的复位信号所控制时,电路的可测试性会显著提高.该文提出了一种新的可测试性结构来设计部分复位触发器,该方法同时减小了在管脚、延时和面积的开销.

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来源
《计算机学报》 |2004年第2期|224-230|共7页
作者
向东; 顾珊; 徐奕;
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作者单位

清华大学软件学院;

北京;

100084;

清华大学软件学院;

北京;

100084;

清华大学软件学院;

北京;

100084;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类基本电路;
关键词
部分复位; 非扫描可测性设计; 扫描设计; 可测试性分析; 初始化;

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