红外系统的定量缺陷识别算法研究

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• 来源
  《电子器件》 |2006年第3期|878-882|共5页
• 作者

  范春利; 孙丰瑞; 杨立;

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• 作者单位

  海军工程大学船舶与动力学院动力工程系307教研室,武汉,430033;

  海军工程大学船舶与动力学院动力工程系307教研室,武汉,430033;

  海军工程大学船舶与动力学院动力工程系307教研室,武汉,430033;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 光电子技术、激光技术;
• 关键词

  红外系统; 红外热像法; 缺陷识别; Levenberg-Marquardt法; 导热反问题;