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正电子湮没技术(PAT)的开发与应用(二)——进口正电子湮没寿命谱仪的改造与特性指标测定

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扼要介绍了进口正电子湮没寿命谱仪的改造,以及谱仪的时间刻度、时间分辨率、计数率等指标的测定.

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来源
《电子器件》 |1990年第1期|1-7|共7页
作者
朱育群; 万玉金; 孙承烋; 任利红;
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作者单位

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正文语种 chi
中图分类 O572.322;
关键词
正电子; 湮没; 材料缺陷; 分析;

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