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含谷电离层频高图剖面分析

         

摘要

本文在引进含谷电离层群、相高关系式以及含谷实际分布与单调等效分布“剖面差”概念的基础上,提出了从频高图估算谷电离的一种程序,并从理论上说明了相高曲线在剖面分析中的重要作用。 利用本程序对实测频高图既可作分片处理也可作模式换算。它可用于确定剖面的精细结构以及日常的剖面分析。

著录项

  • 来源
    《地球物理学报》 |1984年第6期|503-510|共8页
  • 作者

    黄信榆; 谭子勋;

  • 作者单位

    中国科学院武汉物理研究所;

    中国科学院武汉物理研究所;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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