Heterojunction Effect in Weak Epitaxy Growth Thin Films Investigated by Kelvin Probe Force Microscopy

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• 来源
  《中国物理快报：英文版》 |2010年第8期|155-157|共3页
• 作者

  黄海超; 王海波; 闫东航;

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• 作者单位

  State Key Laboratory of Polymer Physics and Chemistry;

  Changchun Institute of Applied Chemistry;

  Chinese Academy of Sciences;

  Changchun 130022;

  Graduate School of Chinese Academy of Sciences;

  Beijing 100049;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 电化学保护;
• 关键词

  Kelvin探针; 异质外延生长; 显微镜; 薄膜层; 异质结效应; 外延生长技术; 图像显示; 晶界势垒;