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High Speed and Ultra-Low-Power Phase Change Line Cell Memory Based on SiSb Thin Films with Nanoscale Gap of Electrodes Less Than 100 nm

         

摘要

Si 16 Sb 84-based 线房间阶段变化随机存取记忆( PCRAM ),在哪个 Si 16 Sb 84阶段变化线被听电极与 nanoscale 差距联系,被为重设操作的最低当前、测量的脉搏宽度是的电子横梁平版印刷术制作 115 μA 和 18 ns ,分别地为再结晶的测量最短的脉搏宽度是 110ns ,与 1.5 V 的应用脉搏振幅。为有不同的线长度的线房间的集合和重设电流是坚定的。10 6 的耐力与上面的电阻比率骑车 800 被完成了。

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