激光全息干涉测量技术的专利技术综述

李宏英

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激光全息干涉测量技术的专利技术综述

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一般光学干涉计量只能测量形状简单、表面光洁度很高的物体,而全息干涉测量方法则能对任意形状、任意粗糙表面的物体进行测量,测量精度为光波波长级.由于全息图具有三维性质,使用全息技术可以从不同视角通过干涉量度去考察一个形状复杂的物体.因此,鉴于其在测量领域具有非常重要的作用,本文主要针对其专利申请和分布等情况进行分析.

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来源
《中国科技纵横》 |2017年第3期|245-246|共2页
作者
李宏英;
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作者单位

国家知识产权局专利局专利审查协作广东中心,广东广州 510530;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类激光的应用;
关键词
全息干涉; 激光; 专利;

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