利用光束偏移技术使显微镜分辨率超出瑞利分辨极限

Some.MG; 唐永滋

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利用光束偏移技术使显微镜分辨率超出瑞利分辨极限

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新近问世的两个荧光显微系统声称其所达到的分辨率已突破瑞利分辨极限。这两个系统工作时运用两束聚焦于样品上的偏移光束，并成像于光重叠区域。本文介绍一个与之相类似的系统，其工作方式也相近，但不用荧光，对这些系统的成像性能进行分析后，作者发现尽管它们的分辨率都有所改进，但关键的是光波带宽并未得到增加。尽管这些系统应用效果良好，并且其工作方式与光瞳面滤光器相似，但这些系统仅只衰减了空间频率，值得鉴赏的是，与以前的论文内容相反，这两系统都未提及真正的超限分辨率这一点重要。

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来源
《云光技术》 |1999年第6期|36-43|共8页
作者
Some.MG; 唐永滋;
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作者单位

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类 TH742.65;
关键词
瑞利分辨极限; 扫描光学显微镜; 超限分辨率; 传递函数;

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