光栅莫尔条纹特性检测仪的研制

李龙林; 叶大梧; 何光宏; 王小勇; 王银峰

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光栅莫尔条纹特性检测仪的研制

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介绍一种应用CCD进行测量的光栅莫尔条纹特性检测仪.该检测仪的结构完全开放,检测过程透明.不仅能够检测光栅副相对移动位移和移动方向与莫尔条纹移动数目和移动方向的关系,而且可以检测光栅副夹角变化对莫尔条纹宽度的影响.应用该仪器可以进行"莫尔条纹移动数目与光栅副移动位移关系测定"和"光栅副夹角变化和莫尔条纹宽度变化关系测定"两个实验,实验结果理想.

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来源
《大学物理》 |2009年第4期|37-39|共3页
作者
李龙林; 叶大梧; 何光宏; 王小勇; 王银峰;
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作者单位

重庆大学,数理学院,重庆,400044;

重庆大学,数理学院,重庆,400044;

重庆大学,数理学院,重庆,400044;

重庆大学,数理学院,重庆,400044;

重庆大学,数理学院,重庆,400044;

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正文语种 chi
中图分类干涉与衍射;
关键词
莫尔条纹; CCD; 开放结构;

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