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利用双压控晶振降低锁相环中的相位噪声

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摘要

锁相环作为现代电子系统中系统的基本构建模块，具有十分重要的作用。进一步提高锁相环的性能，会对整个电子系统性能的提升提供一个保证。利用双压控晶振的设计，可以有效地降低锁相环中的相位噪声，减少噪声对系统的影响，进而提升系统的性能。

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来源
《通信与广播电视》 |2012年第3期|P.52-57|共6页
作者
赵晨; 钱玮;
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作者单位

南京电子计量有限公司;

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正文语种 CHI
中图分类频率合成技术、频率合成器;
关键词
VCXO; PLL相位噪声;

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