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基于量子进化算法的层次型SOC测试结构优化

         

摘要

以减少系统芯片SOC测试时间为目标,研究了层次型SOC的多层次TAM优化问题.根据嵌入式IP核的分类,将层次型SOC测试结构优化转变成了平铺型SOC测试结构优化,并建立了基于量子进化算法的数学模型.通过对群体的观测,决定IP核在测试访问机制上的分配以及当前群体中的最佳个体,实现了包含TAM-ed且wrapped的嵌入式核的层次型SOC测试结构优化.针对国际标准片上系统芯片验证表明.与GA、ILP和启发式算法相比,该算法能够获得更短的测试时间.

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